现代红外光谱分析技术-实验技术和测量软件6.26下午

红外光谱的实验技术及软件

预期目标

1 掌握红外光谱基本的制样技术 2 选择合适的测量附件 3 掌握红外测量软件的一些基本功能

2011.6

各种形态油品的制样技术

† 要获得—张高质量的红外光谱图，除仪器本身因素 之外，还必须对不同状态和性质的试样，采用相应 的制备方法，以适应不同的分析目的和测试仪器。 † 选择制样方法时，首先要考虑样品的聚集态和物化 性质。纯度不高的样品，建议进行提纯处理。含有 水分和溶剂的样品要先进行干燥处理。不稳定样品 要避免使用压片法。制样过程中，要避免空气中的 水分、二氧化碳和其他污染物的混入。

各种形态油品的制样技术

† 气相样品的制样技术 † 液相样品的制样技术 † 固相样品的制样技术

1气相样品的制样技术

†适用范围 气体红外光谱的测定需要气体池，将需要测试的气体充进 气体池中才能测试。 †气体池 分为短光程气体池和常光程气体池。 短光程气体池：光程为10～20cm的气体池 长光程气体池：光程达到米级以上的气体池，如10m， 100m，200m或更长光路的气体池。 †气体池窗片 可选用溴化钾、氯化钾或氟化钡晶片。有些气体如SO2、 NO2能和碱金属卤化物窗片起反应，要改用ZnSe或其它窗片。

1气相样品的制样技术

短光程（10cm）气体池

1

1气相样品的制样技术

1气相样品的制样技术

†气体红外光谱 气体红外光谱吸收峰强度可以通过调整气体池内的压力 来调节。 对于多数气体，气体池内样品的压力为5～10kPa，可得 到满意的光谱。在使用时将气体池抽至一定真空，然后充入 样品，样品气可用纯样气体，也可加入对红外惰性的氮气等 气体以稀释样品。 为避免某些气体吸附在气体池上，可以用干燥氮气吹扫 或在一定温度下减压除去。 定量分析时对池内气体样品的分压应准确计量。

2液相样品的制样技术

† 分类 液膜制样法 吸收池制样法 溶液法 全反射制样法

2 液相样品的制样技术

†液膜制样法 液膜法是液体样品定性分析中应用较广的一种方法。所 谓液膜法，即在两个盐片之间滴1～2滴样品，形成一薄 的 液膜。液膜法最大优点是 方法简单。适用于沸点高，粘度 低，吸收强的液体样品的定性分析 。

2液相样品的制样技术

† 液池窗片材料

波数范围窄的材料：氟化钙、氟化钡 不透可见光，不便于观察晶片间液膜的材料：硅、锗晶体 毒性材料：KRS 5 毒性材料：KRS-5 见光分解：AgCl AgBr 水溶性的材料：KBr KCl NaCl 通常 水溶液：氟化钡晶片 有机溶液：KBr

中红外区常用的液池材料的物理性质

2

2液相样品的制样技术

™吸收池制样法

吸收池制样法：用注射器将样品注入液体密封吸

收池。 适用于低沸点的液体样品或溶液样品； 适用于定量分析。

2液相样品的制样技术

† 液池种类 可拆式液池、固定式液池 垫片厚度：6μm、15 μm、25 μm、50、100 μm 、150 150 μm 、200 200 μm 、500 500 μm 、1000 1000 μm 薄的垫片：聚四氟乙烯或铝箔 厚的垫片：铅垫片

3.1.2液相样品的制样技术

2液相样品的制样技术

† 可变厚度液池 通过旋转旋钮调节液膜的厚度。

2液相样品的制样技术

„

红外常用溶剂的透明范围

溶液法适用于挥发性液体样品的测定。使用固定 液池，将样品溶于适当溶剂中配成一定浓度的溶 液(一般以10%w/w左右为宜)，用注射器注入液 池中进行测定 所用溶剂应易于溶解样品 非极 池中进行测定。所用溶剂应易于溶解样品；非极 性，不与样品形成氢键；溶剂的吸收不与样品吸 收重合。常用溶剂为CS2、CCl4、CHCl3等。

3

衰减全反射附件

†原理 光一束光以入射角α从一种光学介质，射入到另一种光学 介质时，光线在两种介质界面将发生反射和折射现象。反 射角β和折射角γ由反射定律和折射定律决定。 反射定律： α＝ β 折射定律：sinα/sinγ=n2/n1 n2、n1分别为介质1和介质2的折射率。

单色光反射、折射和全反射示意图

衰减全反射（Attenuated Total Reflectance，ATR）

当高折射率的材料（称为ATR晶体，如Si、蓝宝石、Ge、 ZnSe和KRS-5等）与低折射率的样品（溶液）接触，光在 ATR晶体中传播并以一定的入射角度到达与样品接触界面时， 如果入射角θ大于临界角θc，光线在界面处将会发生全反射。

ATR测量附件的原理示意图

隐失波

ATR的光谱强度

ATR的光谱强度取决于有效穿透厚度、反射次数、样 品与反射晶体的紧密贴合程度、样品本身吸收的大小。单 次有效穿透深度D取决于入射光的波长、晶体的折射率、 样品的折射率和光线在晶体界面的人射角：

ATR光谱校正

D=

λ 2 π n1 [sin α − ( n s / n1 ) 2 ]1 / 2

2

晶体折射率越大、入射角越大，穿透深度越浅；样品 折射率越高、入射光波长越长（波数越小），穿透深度越 深。在高端和低端的穿透深度不同，差一个数量级。

4

2衰减全反射附件

† 可变角ATR 连续可变角和固定可变角两种。 连续可变角：30 ～ 60

。 。 。 。

衰减全反射附件

固定可变角：30 、40 、45 、50 、 55 、60 和70

。 。 。

。

。

改变入射角可以测试不同深度的样品，可以提 供不同层面的样品信息，是分析多层样品的理想 工具。

衰减全反射附件

† 若光的波长、反射次数以及样品与反射晶体的紧密贴合 程度一定，ATR的光谱强度只与样品本身的性质有关。 ATR测量方式的主要缺点是其有效光程与测定样品有关， 只有当溶液中的折光率

变化不显著时，ATR的有效光程才 可视为常数 即溶液浓度与ATR吸光度呈线性关系 可视为常数，即溶液浓度与ATR吸光度呈线性关系。 † 对于水溶液样品，由于水的吸收很强，液体池的光程一 般需要控制得很薄，约为0.005～0.007mm，也可采用 ATR附件进行测量。尤其是对于粘稠或浓溶液来说，使用 ATR极为方便。

中红外区常用的液池材料的物理性质

衰减全反射附件

3固相样品的制样技术

†固体样品最常用的制备方法是卤化物压片法，基质有氯化钠、溴 化钾、氯化银、碘化铯，最常用的是溴化钾。 †将1～2mg固体试样与200mg纯KBr研细混合，在玛瑙研钵中研 磨到粒度小于2μm，然后用油压机压成直径13mm，厚度0.5mm的 透明薄片。 †由于溴化钾极易吸潮，应在红外灯下充分干燥后压片，否则会在 3300cm-1和1640cm-1处出现水的吸收峰。 †此法适用于可以研细的样品，对于不稳定的化合物，如发生分解 、异构化、升华等变化的化合物不宜使用压片法。在压片时，有些 样品可能在加压的情况下与溴化钾发生反应，也应引起注意。例如 羧酸、氯化物、硫酸盐和硝酸盐等样品，采用KBr压片时，可能会 出现羧酸盐、氯化钾、硫酸钾和硝酸钾的吸收峰。

（A）25μm的透射池；（B）45°ZnSe水平ATR（12次反射）；（C）45°Ge水平ATR（12次反射）

5

3固相样品的制样技术

3固相样品的制样技术

†对于无法采用压片法制样的固体粉末样品可采用糊状法， 糊状法又称Nujol法。此法是把固体粉末分散或悬浮于石腊油 等糊剂中，然后将糊状物夹于两片KBr等盐片之间测定其光 谱。

压片机

压片模具

†操作时，用干净的玛瑙研钵将3～4mg固体试样研细，滴两 操作时 用干净的玛瑙研钵将3 4 固体试样研细 滴两 滴石蜡油后继续研磨，用不锈钢刀刮到盐片上，压上另一块 盐片，放在可拆液体池的池架上，测定光谱图。 †凡是能转变成粉末的样品都可用糊状法测定。该法制备无 机物和配位化合物样品时，不存在离子交换问题，对光谱影 响较小。因此，有些标准谱图库中的大多数固体化合物的红 外光谱都是采用石腊油研磨法制样测得的。

3固相样品的制样技术

†各种糊剂本身在红外区也有特征吸收，因此，需要把几种 糊剂配合起来使用，才能得到样品在整个红外区的完整光谱 图。 †例如石腊油（Minernal oil 或Nujol）是一种精制的长链糊 1，不能用于研究饱和 剂 适用的光谱范围为1360 400 -1 剂，适用的光谱范围为1360～400cm 不能用于研究饱和 C－H键的伸缩振动吸收。氟油（Fluorolube）在4000～ 1400 cm-1范围无吸收，六氯丁二烯在4000～1700 cm-1及 1500～1260 cm-1范围内无吸收，可以把以上三种糊剂配合 使用

，得到样品的完整红外光谱图。

3固相样品的制样技术

†溶液制样法

固体样品溶于溶剂中，按液相样品吸收制样法测定。 易溶于常用溶剂的固体试样，在定量分析中可选用 。

3固相样品的制样技术

†薄膜法 薄膜法主要用于高分子化合物的测定，厚度在 50μm以下的高聚物薄膜可直接进行红外光谱测量 ，大多数样品则需采用： 溶液成膜 熔融成膜 热压成膜 对于不溶、难熔又难粉碎的样品，可用机械切 片成膜。薄膜的厚度为10-30μm，且厚薄均匀。

3固相样品的制样技术

⑴ 熔融涂膜：适用于一些熔点低、熔融时不分解、 不产生化学变化的样品。 ⑵ 热压成膜：对于热塑性聚合物或在软化点附近不 发生化学变化的塑性无机物，可将样品放在模具中加 热至软化点以上或熔融后再加压力压成厚度合适的薄 膜。 ⑶ 溶液成膜：将样品溶解于适当的溶剂中，然后将 溶液滴在盐片、玻璃板、平面塑料板、金属板、水面 上或水银面上，使溶剂挥发掉就可以得到薄膜了。

6

3固相样品的制样技术

3固相样品的制样技术

3固相样品的制样技术

漫反射测量方式

†工作原理 漫反射光谱主要用于固体样品的分析，如：粉末 、粗糙表面的固体和某些液体，它经常可以替代传 统的透射测试方法 统的透射测试方法。 漫反射光谱是红外光照射到样品粗糙表面发生的 反射、吸收、散射和透射的现象，漫反射光谱被收 集，然后到达光谱仪检测器产生IR 光谱。

Ge晶体的折射率很高，穿透深度小（在1000cm-1处约为1.9μm，ZnSe 晶体则约为6μm），适合于测定强吸收和高折射率的样品，如填充炭黑的 聚合物。

漫反射理论

透射 吸收 镜面反射 漫( 反) 射 散射

漫反射测量

漫反射率（R，Reflectance）

R= I × 100% I0

漫反射吸光度 1 A = lg R 漫反射吸光度光谱与样品中吸光成分浓度之间关系并不服 从朗白-比尔定律，即吸光度和浓度不呈严格的线性关系。 主要原因：①镜面反射光没有样品信息，但对漫反射吸光 度有贡献；②漫反射光经过曲折和不规则的光程，与样品 散射系数和吸收系数有关。

7

Kubelka-Munk理论

' R∞ = 1+

红外漫反射附件

K ⎛K⎞ ⎛K⎞ − ⎜ ⎟ + 2⎜ ⎟ )] S ⎝S⎠ ⎝S⎠

2

K ⎛K⎞ ⎛K⎞ − ⎜ ⎟ + 2⎜ ⎟ S ⎝S⎠ ⎝S⎠

2

A = − lg( R∞ ) = − lg[1 +

K漫反射体的吸收系数，取决于漫反射体的化学组成；S为 散射系数，取决于漫反射体的物理特性。

K-M方程

K (1 − R∞ ) = S 2 R∞

2

F ( R∞ ) =

K bc = = b 'c S S

采用漫反射测试时需把样品研磨得很细，粒度应在2～5μm之间，粒度越 小，镜面反射成分越少，漫反射成分越多，测量的灵敏度越高。为了避免 产生吸收峰饱合现象，可用溴化钾

或氯化钾粉末作为样品的稀释剂，样品 的浓度可以从0.1～100％之间变化。样品厚度至少3mm，样品表面平整。

由于K与浓度呈线性关系，所以， K-M函数与浓度呈线性关 系。每次装样条件的差别改变了样品内部排列与分布情况， 引起散射系数变化，导致光谱重复性差，因此，漫反射光谱 测量通常需要将样品研磨成细末，样品粒度，密度和平整度 都会影响漫反射光谱的重复性。

其他测量方式和附件

†镜面反射（掠角反射） †红外偏振器 †变温附件 †高压附件 †光声光谱附件 †…

红外光谱测量软件

† 主要功能介绍 † 光谱处理方法的原理与应用 † 光谱检索方法与技巧 † 仪器参数的设定及注意事项

主要功能介绍

† † † † † † 仪器自检功能 仪器参数设定功能 测定参数设定功能 样品信息录入功能 光谱数据处理功能 其它功能

8

1仪器自检功能

†属于仪器自诊断功能，通常检查仪器激光器、光源、干涉 仪、电子元件、自动设备以及软件等是否正常。 －分辨率测试 －灵敏度测试 －能量分布测试 能 分布测试 －波长准确性测试 －扫描时间测试 －准直测试 －线性测试

仪器自检功能

†噪音和信噪比

选择光谱仪4 cm-1分辨率条件，测量1min。用计算机输 出2000~2100 cm-1范围100%线的峰-峰值，并求出信噪 比。 影响信噪比的因素有：测量时间t，分辨率△ ν ，红外光 通量、干涉仪动镜扫描速度和切趾函数等。 信噪比与测量时间t的平方根成正比，与分辨率△ ν 成正 比，与光通量E成正比，即： SNR∝t

1/2

△νE

仪器自检功能

† 100%线测试

方法：测定4000、2000、1000和500cm-1的处的噪音 （RMS和峰-峰）和与100％透射率差。采集空气本底 光谱和空气样品光谱，测100%线。 作用：表征光准直偏移 光源故障 检测器故障 电子 作用：表征光准直偏移、光源故障、检测器故障、电子 故障。100％水平偏差（尤其是在高波数区域）表明干 涉仪、检测器或者光源不稳定。重复噪音，比如锐峰或 者正弦峰，表明数字故障；出现独立噪音锐峰，可能是 数字故障或者电磁干扰。正峰或者负峰表明仪器故障或 者过度水蒸气存在。

仪器自检功能

†能量测试方法 空比色皿的单光束能源光谱或干涉光谱 作用：能量大幅度下降，表明干涉仪准直故障或者光源 温度下降。如果仪器处于高湿度环境中，能量下降表明分束 器或者窗口结雾。如果能量整体下降，且与波长无关，表明 或者窗 结雾 如果能 整体 降 与波长 关 表 光路阻挡或者非干涉仪光学部件准直。

仪器自检功能

† 波数准确性和精确性

作用：峰位变化，表明激光和IR光束漂移。 方法：重复多次测定标准物质（CO2、水蒸汽、聚苯

乙烯、 氨 茚）已知吸收峰的波数，计算其平均值和 复偏 氨、茚）已知吸收峰的波数，计算其平均值和重复偏差。 平均值与标准波数的差值作为波数的准确性，重复偏差为 精确性。 一氧化碳气体特征吸收峰：2193.36cm-1。 聚苯乙烯薄膜：3个特征峰位（3081.87、1601.15、 906.62 cm-1）。 水蒸气特征吸收峰：1554.353cm-1。

仪器自检功能

†吸光度精确性

同一条件下，短时间内对标准物质样品测定两次以上的， 测定透过率误差。 采集空气本底光谱，放入0 05mm聚苯乙烯薄膜标样， 采集空气本底光谱，放入0.05mm聚苯乙烯薄膜标样， 采集样品光谱，得到该样品透过率光谱，连续重复测量6次， 分别：3个特征峰位（3081.87、1601.15、906.62 cm-1） 的透过率，取其透过率的最大值Tmax 及最小值Tmin，其重 复性为Tmax–Tmin。

9

仪器自检功能

仪器自检功能

仪器参数设定功能

仪器参数设定功能

仪器参数设定功能

仪器参数设定功能

10

仪器参数设定功能

仪器参数设定功能

仪器参数设定功能

仪器参数设定功能

仪器参数的设定及注意事项

（1）光学平台参数设置 光源、分束器、光过滤器、放大器、通道、检测器、速度、高通过 滤器、低通过滤器、增益等。 每一类仪器光学平台参数设置不同，需按照说明书进行设置，轻易 不要随意改动设置。 （2）干涉仪参数设置 绝对峰位、氦氖激光器波长、分辨率、采样速度、最大FT大小。 需要根据仪器使用说明书或者厂家维修人员指导设置。 （3）输出选项参数设置 光谱文件输出格式、透射、吸光度。 可以根据用户需求设置。 （4）通讯参数设置 需要根据仪器使用说明书或者厂家维修人员指导设置。

光谱数据处理功能

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以波数为单位等间隔分布红外光谱图

以波数为单位在2000cm-1处裂分红外光谱图

以波数为单位在2200和1000cm-1处裂分红外光谱图

以波长（μm）为单位的红外光谱图

光谱处理方法原理与应用

†基线校正

选定某波长区间， 然后采用直线或者多 项式进行基线拟和后， 将原始光谱减去该基 线，实现基线校正。 目的是查找特征吸收 峰，便于定性。不适 合定量。

校正前

光谱处理方法原理与应用

†差减法 在数学上将两个光谱相减，有背景扣除法和吸光度差减法 两种。 （1）背景扣除法 比如：测试单晶硅片上 的薄膜的光谱时，在背景 光路中插入从同一块单晶 硅片切下的厚度相同的硅 片，扣除单晶硅片的光谱， 得到薄膜的光谱，如右图 所示。

校正后

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光谱处理方法原理与应用

†（2）吸光度光谱差减法 差谱＝样品光谱－参比光谱×差减因子 关键是参考峰，然后调节差减因子，将参考峰全部减掉。

光谱处理方法原理与应用

A为未知样品光谱， 对光谱进行检索，得知 未知物中含硬脂酸钙 （光谱B），以B为参考 光谱，选择中等强度吸 1 收峰（1472 －1 收峰（1472cm ）为 参考峰。调整差减因子， 将该峰减掉，得到差减 光谱C，然后对C进行检 索，得到含三聚氰胺脲 （甲）醛树脂（谱图D）， 从而鉴别物质含B和D物 质。

光谱处理方法原理与应用

† 注意事项：

（1）差减次数不宜过多，结果可靠性下降； （2）基团相互作用，差减谱图变形； （3）最好选择非极性基团的振动谱带为参考峰，如CH2 和CH3的伸缩振动 （4）在很难找到参考峰时，应调节差减因子，尽量不要 出现太强负峰； （5）差减因子尽量为1，太大（2以上），差谱会畸变。

光谱处理方法原理与应用

†谱图计算

指对光谱的纵坐标进行＋、－、×和÷等运算。

光谱计算器

光谱处理方法原理与应用

1708

光谱平滑

1466

0.012

0.010

1559 1661 1589

0.008

Arbitrary y units

0.004

1645 5

1680

0.002

-0.002

-0.004

-0.006

1700

1600 Wavenumbers (cm-1)

1574

1535

1500

二阶导数光谱再乘以－1后得到的光谱

1488

0.000

1630

1514

0.006

13

光谱处理方法原理与应用

†导数光谱

可以使用Savitzky-Golay算法对光谱进行多阶求导，目 的是扣除基线漂移、标示特征峰、定量计算等。 一阶导数能够显示出原始光谱的吸收峰和肩峰；二阶导 数则能够找出原始光谱吸收峰和尖峰的准确位置。 数则能够找出原始光谱吸收峰和尖峰的准确位置

光谱处理方法原理与应用

光谱处理方法原理与应用

†归一化

归一化是将光谱的纵坐标 进行归一化。消除光程等造 成的信号强弱对分析的影响， 消除不同测定条件对同一样 品信号的影响，用于定量和 数据库标准化处理。 透射光谱：最大吸收峰强度 为10％，基线为100％。 吸收光谱：最小值变为0， 最大值扩展到1。 †归一化后光谱为标准光谱。

原始光谱

归一化后

（A）原光谱；（B）傅里叶退卷积光谱；（C）二阶导数光谱

光谱处理方法原理与应用

†生成直线

使光谱中某一区间 内所有吸收峰消失而生 成一直线。常用于扣除 水和 氧化碳峰 如果 水和二氧化碳峰。如果 采集样品光谱与采集背 景光谱的时间相隔太长， 使用红外附件（红外显 微镜）时，以及光谱信 号非常弱时，会出现二 氧化碳和水汽吸收峰。

光谱处理方法原理与应用

† 利用傅里叶退卷积（自卷积，或解卷积，或去卷积）光谱 数据处理技术可以增强光谱的分辨能力，将严重重叠的谱 带分开。 † 退卷积，必须选择一个光谱区间，不能对全谱进行退卷积 处理 处理。 † 只能对吸光度光谱进行退卷积处理。退卷积光谱中峰的方 向与吸光

度光谱吸收峰的方向是一致的。 † 有两个参数影响退卷积的结果，一个是谱带宽度（Band width 或Half width），另一个是分辨率增强因子（ Enhancement 或K Factor）。

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峰面积和峰高计算

峰面积和峰高计算

曲线拟合法

† 曲线拟合法是将重叠在一起的各个子峰通过计算机拟合， 将它们分解为呈洛伦茨（Lorentzian）函数分布或高斯 (Gaussian)函数分布的各个子峰。 † 每一个子峰一般都赋予5个参数：峰位，峰高，半高宽， 峰面积和峰形 所以曲线拟合法是定量测量重叠谱带中各 峰面积和峰形。所以曲线拟合法是定量测量重叠谱带中各 个吸收峰的峰高和峰面积的最好方法。 † 曲线拟合需要有曲线拟合软件，有些红外仪器公司提供的 红外软件中已经包含了曲线拟合软件，而有些仪器公司在 红外软件中并没有提供曲线拟合程序，如果用户需要，还 应单独购买。曲线拟合软件也可以请计算机编程人员编写 ，或向国内有关单位购买。

曲线拟合法

曲线拟合法

曲线拟合法

（A）脱氧核糖核酸在重水中酰胺I谱带； （B）减去重水后的差谱；（C）差减光谱的二阶导数光谱

脱氧核糖核酸酰胺I谱带的曲线拟合。（A）原光谱； （B）各子峰的加和光谱；编号1-9的光谱为拟合得到的九个子峰的光谱

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曲线拟合法

光谱检索方法与技巧

† † † † 谱图检索 峰位检索 信息检索 结构式检索

谱图检索

谱图检索的目标是用一 个或多个谱库鉴别未知谱。 根据对未知光谱峰形与谱 库中光谱峰形比较结果， 选择匹配度最佳光谱所对 应的光谱 应的光谱。 检索方法有谱峰列表法 和相关系数法来进行比较。 最常用谱图库有Sadtler、 Aldrich和Sigma等红外光谱库， 这些商用的数据库包括许多门类， 如纯有机化合物、工业化合物、 聚合物和相关化合物 刑侦科学 聚合物和相关化合物、刑侦科学、 环境应用、无机物和有机金属类 等，甚至每一大类中又分成若干 子库。谱图库在未知物鉴定、化 学产品质量控制、刑事侦探、环 境保护、食品、石油、塑料工业、 教学和矿物分析等各个领域有着 广泛的应用。

谱图检索

„目前最常用的检索方法都是基于全谱（或选择某一光谱区 间）进行运算的，全光谱检索方法一般采用距离算法。 „每种算法都是把未知物谱图中指定波数范围内的每一个数 据点和数据库中每一张谱图相应数据点进行数学上的比较， 并且分别计算出 个表示两张谱图相似程度的匹配值 这 并且分别计算出一个表示两张谱图相似程度的匹配值。这 个匹配值越小，表示这两个光谱越相似。相关系数和夹角 余弦方法也用于光谱的检索。 „不同公司的软件对匹配值的定义会有所

不同，使用前应了 解其确切的含义。

谱图检索

常用的距离检索算法有以下四种： （1）绝对差值法： M =

n

谱图检索

∑S

i =1 n i =1

i

− Ri − Ri )

（2）最小二乘法： M =

∑ (S

n i =1

2

i

（3）绝对微分法： M =

∑ (S

i

− S i −1 ) − (Ri − Ri −1 ) − S i −1 ) − (Ri − Ri −1 )]

2

（4）微分最小二乘法： M =

∑ [(S

i =1

n

i

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峰位检索

峰位检索是一简单却非常有效的检索方法。它使用 一个或多个峰位同所选谱库进行比较。对Sadtler 谱库 进行峰位检索时，其结果取决于谱库中所存峰位数量。 这种检索方法通常用于用老式仪器得到（绘在纸张 的）光谱，或非数字化的数据。但是也可以用于回答 “哪张谱库上有这个峰？”一类的问题。 需要输入峰位（波数）和峰强信息（弱、中和强）。

信息检索

信息检索指使用谱库中存贮信息进行检索。 用户输入和采样时得到的数据信息都可以使用。 每次可以使用若干字段（多条件混合）检索。

结构式检索

结构检索是提供一 个方便可靠的检索谱库 中化合物的方法。当不 知道化合物的准确名称 时，这种检索方法通常 ， 索 常 能快速地得到较好的结 果。另外可以将分子结 构断开来细化和过滤检 索。

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